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Instrumento de medida de la contaminación superficial de los dispositivos de la supervisión de radiación del contraluz

Certificación
CHINA HUATEC  GROUP  CORPORATION certificaciones
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Comentarios de cliente
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Instrumento de medida de la contaminación superficial de los dispositivos de la supervisión de radiación del contraluz

Instrumento de medida de la contaminación superficial de los dispositivos de la supervisión de radiación del contraluz
Instrumento de medida de la contaminación superficial de los dispositivos de la supervisión de radiación del contraluz

Ampliación de imagen :  Instrumento de medida de la contaminación superficial de los dispositivos de la supervisión de radiación del contraluz

Datos del producto:
Lugar de origen: China
Nombre de la marca: HUATEC
Número de modelo: Serie de DRH
Pago y Envío Términos:
Cantidad de orden mínima: 1 set
Detalles de empaquetado: caja de cartón
Tiempo de entrega: 3-7 días laborables
Condiciones de pago: TT, L/C, unión occidental

Instrumento de medida de la contaminación superficial de los dispositivos de la supervisión de radiación del contraluz

descripción
Detector: detector de semiconductor La área delicada de la punta de prueba de la ventana: Ia, 3.14cm2 e Ib, 19.6cm2 son opcionales
Cuenta de la gama: α, tarifa de cuenta del β 0.1~99999cpm X, gama de medición del γ: 0.01μSv/h~100mSv/h, error relativo: el ≤±15%
Ajuste de alarma: α: 1~200cpm, β: 20~2000cpm Tamaño: unidad principal: 190×93×48; punta de prueba: Φ33×150
Peso: 730g
Alta luz:

dispositivo de la medida de la radiación

,

instrumento de la medida de la radiación

Instrumento de medida radiactivo de la contaminación superficial HRDmu-I

 

Características superficiales de la medida del γ de la medida de α/β y de la contaminación del ambiente

puede almacenar 100, 000 manojos de datos, y tiene función de comunicación de datos.

es fácil leer la demostración del código de barras del valor numérico y de la simulación.

es confiabilidad ligera y fácil de utilizar, y alta

 

HRDmu-I adopta el detector de semiconductor. Es conveniente para la supervisión baja de la detección de la contaminación de radiación superficial del α β y de radiación del γ del ambiente X. Tenga la alta confiabilidad de la buena eficacia de la detección y características de operación convenientes. La una punta de prueba puede distinguir alfa de la medida y beta con diseño delicado, y también se puede utilizar para la medida del nivel de dosis de radiación del γ del ambiente X.

El instrumento adopta control monopastilla del microordenador. Puede registrar y almacenar los datos de la medida continuamente. Puede ser utilizada en la supervisión radiológica ambiental; medicina nuclear; central nuclear; producción, reservas y transporte del combustible nuclear y así sucesivamente.

 

Detector

detector del ●semiconductor

La área delicada de la punta de prueba de la ventana

el ●Ia, 3.14cm2 e Ib, 19.6cm2 son opcionales

La mini distancia del borde de la punta de prueba a la ventana sensible

●4.5mm;

El grueso de la película del aluminio de la ventana de la punta de prueba

cm2s de ●<1.1mg/;

Eficacia del instrumento

el ●ηα≥24% (239PU, superficiedelwindow4.5mm); elηβ≥30%

fondo instrumental

tipo del ●Ia: α<0.5cpm; CPM β≤20;
tipo del ●Ib: α<3cpm; CPM β≤100;

Cuenta de la gama

●α, tarifa de cuenta del β 0.1~99999cpm;

X, gama de medición del γ

●0.01μSv/h~100mSv/h, error relativo: el ≤±15%;

Ajuste de alarma

●α: 1~200cpm, β: 20~2000cpm, continuando ajustan

poder

●Built-en las baterías de litio recargables, time≥ sostenible del trabajo 7 días

Características del ambiente del trabajo

●temperature: -20℃~50℃; humedad relativa (RH): El RH≤90% (@30℃);

Peso del tamaño

unidad del ●main: 190×93×48; punta de prueba: Φ33×150; peso: 730g.

 

Contacto
HUATEC GROUP CORPORATION

Persona de Contacto: Ms. Shifen Yuan

Teléfono: 8610 82921131,8613910983110

Fax: 86-10-82916893

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