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Tester de espesor de revestimiento XRF HXRF-450S con detector SDD

Certificación
CHINA HUATEC  GROUP  CORPORATION certificaciones
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Comentarios de cliente
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Tester de espesor de revestimiento XRF HXRF-450S con detector SDD

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Ampliación de imagen :  Tester de espesor de revestimiento XRF HXRF-450S con detector SDD

Datos del producto:
Lugar de origen: China
Nombre de la marca: HUATEC
Certificación: CE
Número de modelo: HXRF-450S
Pago y Envío Términos:
Cantidad de orden mínima: 1 pieza
Precio: USD14145/set - USD15990/set
Detalles de empaquetado: Caja de embalaje de cartón
Tiempo de entrega: 10-15 días laborables después del recibo de su pago
Condiciones de pago: T/t, PayPal
Capacidad de la fuente: 5sets/month

Tester de espesor de revestimiento XRF HXRF-450S con detector SDD

descripción
Rango de los elementos de medición:: Aluminio (Al) - uranio (U) Detector: SDD
Test time: 10-40s Corriente del tubo: 0-1mA (Controlado por programa)
Presión alta: 0-50kV (Controlado por programa) Aumento: Óptica: 40-60×
Voltado de entrada:: Las emisiones de gases de efecto invernadero de los sistemas de energía eléctrica de las instalacion
Resaltar:

Probador de espesor de revestimiento de RFX

,

Prueba de pintura por fluorescencia de rayos X

,

analizador de espesor de revestimiento no destructivo

HXRF-450S Probador de Espesor de Recubrimiento y Pintura por Fluorescencia de Rayos X
Especificaciones del Producto
Atributo Valor
Rango de elementos de medición Aluminio (Al) - uranio (U)
Detector SDD
Tiempo de prueba 10-40s
Corriente del tubo 0-1mA (Controlado por programa)
Alta presión 0-50kV (Controlado por programa)
Ampliación Óptica: 40-60×
Voltaje de entrada AC220V±10% 50/60HZ
Descripción general del producto

El Probador de Espesor de Recubrimiento y Pintura por Fluorescencia de Rayos X HXRF-450S es un instrumento de alto rendimiento diseñado para la medición precisa del espesor de recubrimientos y el análisis de materiales en diversas industrias.

Condiciones de trabajo
  • Temperatura de funcionamiento: 15-30℃
  • Humedad relativa: 40%~50%
  • Fuente de alimentación: CA: 220V ± 5V
Rendimiento técnico
  • Excelente estabilidad a largo plazo con mínimos requisitos de calibración
  • No se necesita preparación de muestras para sistemas de recubrimiento, muestras sólidas o líquidas
  • Rendimiento integral que incluye análisis de recubrimientos, análisis cualitativo/cuantitativo, análisis de baños y funciones estadísticas
Aplicaciones

Ideal para componentes electrónicos, semiconductores, PCB, FPC, soportes LED, autopartes, revestimientos funcionales, piezas decorativas, conectores, terminales, sanitarios, joyería y otras industrias para la medición del espesor del recubrimiento superficial y el análisis de materiales.

Características de seguridad
  • Interfaz de usuario sencilla con autorización limitada del operador
  • Capacidades de mantenimiento del supervisor
  • Registros automáticos de uso del operador
  • Bloqueo automático para la prevención de operaciones no autorizadas
  • Sensor de puerta de la cámara de muestras
  • Luz de advertencia de rayos X
  • Botones de seguridad del panel frontal
Características principales
  • Mide hasta 5 capas (4 recubrimientos + sustrato) simultáneamente
  • Analiza 15 elementos con corrección automática de la línea espectral
  • Alta precisión de medición (hasta μin) con excelente estabilidad
  • Medición rápida no destructiva (tan rápido como 10s)
  • Analiza sólidos y soluciones con capacidades cualitativas, semi-cuantitativas y cuantitativas
  • Identificación y detección de clasificación de materiales
  • Estadísticas de datos completas (promedio, desviación estándar, etc.)
  • Múltiples opciones de salida (impresión, PDF, Excel) con informes completos
  • Vista previa de la posición de medición con aumento óptico de 30×
  • Servicio y soporte técnico global
Parámetros técnicos
Parámetro Especificación
Rango de elementos de medición Aluminio (Al) - uranio (U)
Detector SDD
Tipos de colimador Orificio único fijo (0,15 mm, 0,2 mm, 0,5 mm)
Sistema de trayectoria óptica Irradiación vertical
Ampliación Óptica: 40-60×
Modos de visualización Espectro elemental, patrón de etiqueta, elementos y valores de medición
Cámara Cámara industrial de alta definición con aumento local
Aplicaciones Recubrimiento único/doble, recubrimiento de aleación, solución de galvanoplastia
Voltaje de entrada AC220V±10% 50/60HZ
Comunicación Transmisión USB de alta velocidad
Dimensiones 555*573*573mm (cavidad de 410*478*245mm)
Fuente de rayos X Tubo de luz de microenfoque de alta precisión (objetivo W)
Características del software Algoritmo FP, diagnóstico/corrección automática de fallas, compensación automática
Configuración estándar
Detector de semiconductores SDD
  • Detector de semiconductores SDD refrigerado eléctricamente
  • Resolución: 129 ± 5 EV
  • Módulo de circuito de amplificación para la detección de rayos X característicos de la muestra
Dispositivo de excitación de rayos X
  • Salida máxima de corriente del filamento: 1mA
  • Componente de semi-pérdida, 50W, refrigeración por aire
Transmisor de alta presión
  • Salida de voltaje máxima: 50kV
  • Ajuste controlable mínimo de 5kV
  • Protección contra sobrecarga de voltaje incorporada
Tester de espesor de revestimiento XRF HXRF-450S con detector SDD 0 Tester de espesor de revestimiento XRF HXRF-450S con detector SDD 1

Contacto
HUATEC GROUP CORPORATION

Persona de Contacto: Ms. Shifen Yuan

Teléfono: 8610 82921131,8618610328618

Fax: 86-10-82916893

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