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Datos del producto:
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Rango de los elementos de medición:: | Aluminio (Al) - uranio (U) | Detector: | SDD |
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Test time: | 10-40s | Corriente del tubo: | 0-1mA (Controlado por programa) |
Presión alta: | 0-50kV (Controlado por programa) | Aumento: | Óptica: 40-60× |
Voltado de entrada:: | Las emisiones de gases de efecto invernadero de los sistemas de energía eléctrica de las instalacion | ||
Resaltar: | Probador de espesor de revestimiento de RFX,Prueba de pintura por fluorescencia de rayos X,analizador de espesor de revestimiento no destructivo |
Atributo | Valor |
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Rango de elementos de medición | Aluminio (Al) - uranio (U) |
Detector | SDD |
Tiempo de prueba | 10-40s |
Corriente del tubo | 0-1mA (Controlado por programa) |
Alta presión | 0-50kV (Controlado por programa) |
Ampliación | Óptica: 40-60× |
Voltaje de entrada | AC220V±10% 50/60HZ |
El Probador de Espesor de Recubrimiento y Pintura por Fluorescencia de Rayos X HXRF-450S es un instrumento de alto rendimiento diseñado para la medición precisa del espesor de recubrimientos y el análisis de materiales en diversas industrias.
Ideal para componentes electrónicos, semiconductores, PCB, FPC, soportes LED, autopartes, revestimientos funcionales, piezas decorativas, conectores, terminales, sanitarios, joyería y otras industrias para la medición del espesor del recubrimiento superficial y el análisis de materiales.
Parámetro | Especificación |
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Rango de elementos de medición | Aluminio (Al) - uranio (U) |
Detector | SDD |
Tipos de colimador | Orificio único fijo (0,15 mm, 0,2 mm, 0,5 mm) |
Sistema de trayectoria óptica | Irradiación vertical |
Ampliación | Óptica: 40-60× |
Modos de visualización | Espectro elemental, patrón de etiqueta, elementos y valores de medición |
Cámara | Cámara industrial de alta definición con aumento local |
Aplicaciones | Recubrimiento único/doble, recubrimiento de aleación, solución de galvanoplastia |
Voltaje de entrada | AC220V±10% 50/60HZ |
Comunicación | Transmisión USB de alta velocidad |
Dimensiones | 555*573*573mm (cavidad de 410*478*245mm) |
Fuente de rayos X | Tubo de luz de microenfoque de alta precisión (objetivo W) |
Características del software | Algoritmo FP, diagnóstico/corrección automática de fallas, compensación automática |
Persona de Contacto: Ms. Shifen Yuan
Teléfono: 8610 82921131,8618610328618
Fax: 86-10-82916893