Tester de espesor de revestimiento XRF HXRF-450S con detector SDD

El Probador de Espesor de Recubrimiento y Pintura por Fluorescencia de Rayos X HXRF-450S es un instrumento de alto rendimiento diseñado para la medición precisa del espesor de recubrimientos y el análisis de materiales en diversas industrias.

• Temperatura de funcionamiento: 15-30℃
• Humedad relativa: 40%~50%
• Fuente de alimentación: CA: 220V ± 5V

• Excelente estabilidad a largo plazo con mínimos requisitos de calibración
• No se necesita preparación de muestras para sistemas de recubrimiento, muestras sólidas o líquidas
• Rendimiento integral que incluye análisis de recubrimientos, análisis cualitativo/cuantitativo, análisis de baños y funciones estadísticas

Ideal para componentes electrónicos, semiconductores, PCB, FPC, soportes LED, autopartes, revestimientos funcionales, piezas decorativas, conectores, terminales, sanitarios, joyería y otras industrias para la medición del espesor del recubrimiento superficial y el análisis de materiales.

• Interfaz de usuario sencilla con autorización limitada del operador
• Capacidades de mantenimiento del supervisor
• Registros automáticos de uso del operador
• Bloqueo automático para la prevención de operaciones no autorizadas
• Sensor de puerta de la cámara de muestras
• Luz de advertencia de rayos X
• Botones de seguridad del panel frontal

• Mide hasta 5 capas (4 recubrimientos + sustrato) simultáneamente
• Analiza 15 elementos con corrección automática de la línea espectral
• Alta precisión de medición (hasta μin) con excelente estabilidad
• Medición rápida no destructiva (tan rápido como 10s)
• Analiza sólidos y soluciones con capacidades cualitativas, semi-cuantitativas y cuantitativas
• Identificación y detección de clasificación de materiales
• Estadísticas de datos completas (promedio, desviación estándar, etc.)
• Múltiples opciones de salida (impresión, PDF, Excel) con informes completos
• Vista previa de la posición de medición con aumento óptico de 30×
• Servicio y soporte técnico global

• Detector de semiconductores SDD refrigerado eléctricamente
• Resolución: 129 ± 5 EV
• Módulo de circuito de amplificación para la detección de rayos X característicos de la muestra

• Salida máxima de corriente del filamento: 1mA
• Componente de semi-pérdida, 50W, refrigeración por aire

• Salida de voltaje máxima: 50kV
• Ajuste controlable mínimo de 5kV
• Protección contra sobrecarga de voltaje incorporada