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Datos del producto:
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| Rango de los elementos de medición:: | Aluminio (Al) - uranio (U) | Detector: | SDD |
|---|---|---|---|
| Tiempo de prueba: | 10-40S | Corriente del tubo: | 0-1mA (Controlado por programa) |
| Presión alta: | 0-50kV (Controlado por programa) | Aumento: | Óptica: 40-60× |
| Voltaje de entrada:: | CA 220 V ± 10 % 50/60 Hz. | ||
| Resaltar: | Analisador de revestimiento de espectrómetro de fluorescencia de rayos X,Medición del grosor del revestimiento EDXRF,un analizador de espectrómetro XRF no destructivo |
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| Atributo | Valor |
|---|---|
| Rango de elementos de medición | Aluminio (Al) - Uranio (U) |
| Detector | SDD |
| Tiempo de prueba | 10-40s |
| Corriente del tubo | 0-1mA (Controlado por programa) |
| Alto voltaje | 0-50kV (Controlado por programa) |
| Aumento | Óptica: 40-60× |
| Voltaje de entrada | AC220V±10% 50/60HZ |
El medidor de espesor de recubrimiento de pintura de fluorescencia de rayos X HXRF-450S XRF es un instrumento de alto rendimiento diseñado para la medición precisa del espesor de recubrimiento y el análisis de materiales en diversas industrias.
Ideal para componentes electrónicos, semiconductores, PCB, FPC, soportes LED, autopartes, galvanoplastia funcional, piezas decorativas, conectores, terminales, artículos sanitarios, joyería y otras industrias para la medición del espesor del recubrimiento superficial y el análisis de materiales.
| Parámetro | Especificación |
|---|---|
| Rango de elementos de medición | Aluminio (Al) - Uranio (U) |
| Detector | SDD |
| Tipos de colimador | Agujero único fijo (0.15mm, 0.2mm, 0.5mm) |
| Sistema de ruta óptica | Irradiación vertical |
| Aumento | Óptica: 40-60× |
| Modos de visualización | Espectro elemental, patrón de etiqueta, elementos y valores de medición |
| Cámara | Cámara industrial de alta definición con aumento local |
| Aplicaciones | Recubrimiento simple/doble, recubrimiento de aleación, solución de galvanoplastia |
| Voltaje de entrada | AC220V±10% 50/60HZ |
| Comunicación | Transmisión USB de alta velocidad |
| Dimensiones | 555*573*573mm (cavidad de 410*478*245mm) |
| Fuente de rayos X | Tubo de luz microenfocado de alta precisión (blanco W) |
| Características del software | Algoritmo FP, diagnóstico/corrección automática de fallas, compensación automática |
Persona de Contacto: Ms. Shifen Yuan
Teléfono: 8610 82921131,8618610328618
Fax: 86-10-82916893