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HXRF-450S Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía Analisador de espesor de revestimiento

Los Mejores Productos
Certificación
CHINA HUATEC  GROUP  CORPORATION certificaciones
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HXRF-450S Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía Analisador de espesor de revestimiento

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Ampliación de imagen :  HXRF-450S Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía Analisador de espesor de revestimiento

Datos del producto:
Lugar de origen: Porcelana
Nombre de la marca: HUATEC
Certificación: CE
Número de modelo: HXRF-450S
Pago y Envío Términos:
Cantidad de orden mínima: 1 unidad
Precio: USD14145/set - USD15990/set
Detalles de empaquetado: Caja de embalaje de cartón
Tiempo de entrega: 10-15 días hábiles después de recibir su pago
Condiciones de pago: T/T, Paypal
Capacidad de la fuente: 5 juegos/mes

HXRF-450S Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía Analisador de espesor de revestimiento

descripción
Rango de los elementos de medición:: Aluminio (Al) - uranio (U) Detector: SDD
Tiempo de prueba: 10-40S Corriente del tubo: 0-1mA (Controlado por programa)
Presión alta: 0-50kV (Controlado por programa) Aumento: Óptica: 40-60×
Voltaje de entrada:: CA 220 V ± 10 % 50/60 Hz.
Resaltar:

Analisador de revestimiento de espectrómetro de fluorescencia de rayos X

,

Medición del grosor del revestimiento EDXRF

,

un analizador de espectrómetro XRF no destructivo

Espectrómetro de Fluorescencia de Rayos X de Dispersión de Energía HXRF-450S Analizador de Espesor de Recubrimiento
Especificaciones del Producto
Atributo Valor
Rango de elementos de medición Aluminio (Al) - Uranio (U)
Detector SDD
Tiempo de prueba 10-40s
Corriente del tubo 0-1mA (Controlado por programa)
Alto voltaje 0-50kV (Controlado por programa)
Aumento Óptica: 40-60×
Voltaje de entrada AC220V±10% 50/60HZ
Descripción General del Producto

El medidor de espesor de recubrimiento de pintura de fluorescencia de rayos X HXRF-450S XRF es un instrumento de alto rendimiento diseñado para la medición precisa del espesor de recubrimiento y el análisis de materiales en diversas industrias.

Condiciones de Trabajo
  • Temperatura de operación: 15-30℃
  • Humedad relativa: 40%~50%
  • Fuente de alimentación: AC: 220V ± 5V
Rendimiento Técnico
  • Excelente estabilidad a largo plazo con requisitos mínimos de calibración
  • No se requiere preparación de muestra para sistemas de recubrimiento, muestras sólidas o líquidas
  • Rendimiento integral que incluye análisis de recubrimiento, análisis cualitativo/cuantitativo, análisis de baños y funciones estadísticas
Aplicaciones

Ideal para componentes electrónicos, semiconductores, PCB, FPC, soportes LED, autopartes, galvanoplastia funcional, piezas decorativas, conectores, terminales, artículos sanitarios, joyería y otras industrias para la medición del espesor del recubrimiento superficial y el análisis de materiales.

Características de Seguridad
  • Interfaz de usuario sencilla con autorización limitada del operador
  • Capacidades de mantenimiento del supervisor
  • Registros automáticos de uso del operador
  • Bloqueo automático para prevención de operación no autorizada
  • Sensor de puerta de la cámara de muestra
  • Luz de advertencia de rayos X
  • Botones de seguridad en el panel frontal
Características Clave
  • Mide hasta 5 capas (4 recubrimientos + sustrato) simultáneamente
  • Analiza 15 elementos con corrección automática de línea espectral
  • Alta precisión de medición (hasta μin) con excelente estabilidad
  • Medición rápida no destructiva (tan rápida como 10s)
  • Analiza sólidos y soluciones con capacidades cualitativas, semicuantitativas y cuantitativas
  • Detección de identificación y clasificación de materiales
  • Estadísticas de datos completas (promedio, desviación estándar, etc.)
  • Múltiples opciones de salida (impresión, PDF, Excel) con informes completos
  • Vista previa de la posición de medición con aumento óptico de 30×
  • Servicio global y soporte técnico
Parámetros Técnicos
Parámetro Especificación
Rango de elementos de medición Aluminio (Al) - Uranio (U)
Detector SDD
Tipos de colimador Agujero único fijo (0.15mm, 0.2mm, 0.5mm)
Sistema de ruta óptica Irradiación vertical
Aumento Óptica: 40-60×
Modos de visualización Espectro elemental, patrón de etiqueta, elementos y valores de medición
Cámara Cámara industrial de alta definición con aumento local
Aplicaciones Recubrimiento simple/doble, recubrimiento de aleación, solución de galvanoplastia
Voltaje de entrada AC220V±10% 50/60HZ
Comunicación Transmisión USB de alta velocidad
Dimensiones 555*573*573mm (cavidad de 410*478*245mm)
Fuente de rayos X Tubo de luz microenfocado de alta precisión (blanco W)
Características del software Algoritmo FP, diagnóstico/corrección automática de fallas, compensación automática
Configuración Estándar
Detector de semiconductor SDD
  • Detector de semiconductor SDD enfriado eléctricamente
  • Resolución: 129 ± 5 EV
  • Módulo de circuito de amplificación para detección de rayos X característicos de la muestra
Dispositivo de excitación de rayos X
  • Salida máxima de corriente de filamento: 1mA
  • Componente de semi-pérdida, 50W, refrigeración por aire
Transmisor de alto voltaje
  • Salida de voltaje máxima: 50kV
  • Ajuste controlable mínimo de 5kV
  • Protección contra sobrecarga de voltaje incorporada
HXRF-450S Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía Analisador de espesor de revestimiento 0 HXRF-450S Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía Analisador de espesor de revestimiento 1

Contacto
HUATEC GROUP CORPORATION

Persona de Contacto: Ms. Shifen Yuan

Teléfono: 8610 82921131,8618610328618

Fax: 86-10-82916893

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